產(chǎn)品中心
Products光學(xué)顯微鏡、掃描電鏡 掃描電鏡
特點(diǎn)
緊湊型設計，分辨率為4 nm*1
通過(guò)高靈敏度二次電子探測器，背散射探測器，低真空探測器（UVD*2），實(shí)現低加速電壓/低真空下高質(zhì)量圖像觀(guān)察
操作簡(jiǎn)捷，即使新手也能拍出高質(zhì)量的圖片
新開(kāi)發(fā)的導航功能「SEM MAP」，便于快速鎖定視野
大窗口（30 mm2）SDD能譜系統，便于快速分析元素成分*2
規格
|
項目 |
內容 |
|
分解能*3 |
4.0 nm @ 20 kV （SE：高真空模式） |
|
加速電壓 |
0.3 kV ～ 20 kV |
|
放大倍率 |
6× ～ 300,000× （底片倍率） |
|
低真空模式 |
真空范圍：6 ～ 100 Pa |
|
電子槍 |
預對中鎢燈絲 |
|
樣品臺 |
3-軸自動(dòng)馬達臺 |
|
最大樣品尺寸 |
直徑80 mm |
|
最大樣品高度 |
40 mm |
|
尺寸 |
主機：450（W） x 640（D） x 670（H） mm |
|
探測器選配 |
· 高靈敏度低真空二次電子探測器（UVD） · 能量分散型X線(xiàn)探測器（EDS） |
