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奧林巴斯RXV 53M自動(dòng)清潔度檢測儀是應用在汽車(chē)零部件、航空航天、液壓潤滑行業(yè)顆粒度檢測的產(chǎn)品，具有專(zhuān)業(yè)性強，標準化，測定結果可追溯等優(yōu)勢。奧林巴斯清潔度檢測分析系統符合ISO16232，VDA19，ISO4406 等清潔度檢測標準。

RXV 53M自動(dòng)清潔度檢測儀

RXV 53M自動(dòng)清潔度檢測儀：讓您的技術(shù)清潔度檢測更簡(jiǎn)便

組件與零部件的清潔對于生產(chǎn)工藝十分重要。對于開(kāi)發(fā)、制造、批量生產(chǎn)以及成品質(zhì)量控制的所有流程，滿(mǎn)足對常見(jiàn)微觀(guān)尺寸污染物和異物顆粒的計數、分析和分類(lèi)的高標準要求是非常重要的。由于顆粒污染物對于零部件的使用壽命存在直接影響，和國家指令對于確定重要機械部件顆粒物污染的方法和存檔要求均有表述。此前，使用殘留顆粒物的質(zhì)量來(lái)描述殘留物特征。當前使用的標準對諸如顆粒物數量、顆粒物尺寸分布以及顆粒物特征等污染屬性提出了更詳細的信息要求。
RXV 53M清潔度檢測系統專(zhuān)為滿(mǎn)足現代工業(yè)及國家和標準的清潔度要求而特別設計。

組件及零部件的技術(shù)清潔度非常重要，特別是在汽車(chē)和航空航天行業(yè)。

清潔度檢測的標準步驟：準備和檢測

(01:提取, 02:過(guò)濾, 03:稱(chēng)重, 04:檢驗, 05:復審, 06:結果)

系統介紹

BX53M自動(dòng)清潔度檢測儀是應用在汽車(chē)零部件、航空航天、液壓潤滑行業(yè)顆粒度檢測的權1威產(chǎn)品，具有專(zhuān)業(yè)性強，標準化，測定結果可追溯等優(yōu)勢。奧林巴斯清潔度檢測分析系統符合ISO16232，VDA19，ISO4406 等清潔度檢測標準。

系統組成

系統集成BX53M金相光學(xué)顯微鏡，高精度電動(dòng)平臺，自動(dòng)化分析軟件，高清圖像掃描CCD，具有自動(dòng)化高，工作流程化設計模式，操作簡(jiǎn)便，采集圖像快速高效，自動(dòng)補償聚焦確保每幀圖像清晰，無(wú)縫拼接瀏覽，智能識別統計，按照選擇標準生成結果及報告。

系統功能

對不同尺寸的標準濾紙進(jìn)行高精度掃描分析，并結合奧林巴斯*的偏光光闌技術(shù)對顆粒進(jìn)行反光和非反光的區分，以對金屬與非金屬顆粒的判定提供蕞直接的參考數據和影像。同時(shí)可依據不同長(cháng)寬比的設定對纖維與非纖維進(jìn)行精確分類(lèi)，并能計算濾膜上纖維的總長(cháng)度，

對于粘結顆�？稍趯�(shí)際視場(chǎng)下進(jìn)行確認并采用數碼分割法進(jìn)行分割，以確保實(shí)際判斷的準確性。分析軟件流程化簡(jiǎn)潔化，報告可導出，自動(dòng)保存在數據庫目錄下。圖片自動(dòng)保存在數據庫，可追溯，可自動(dòng)定位到每張圖片所在視場(chǎng)，自動(dòng)設別金屬、非金屬、纖維顆粒。分析過(guò)程全部按照ISO16232，VDA19等標準執行，滿(mǎn)足大眾、寶馬、通用、福特等各大汽車(chē)廠(chǎng)清潔度檢測標準，支持用戶(hù)自定義標準。

BX53M Cleanliness Expert是精密設計的零部件清潔度分析系統，對過(guò)濾紙的殘留粒子進(jìn)行檢測，蕞重要的是能對工件的清潔程度進(jìn)行可靠和再現性的評估。

清潔度分析系統采用10倍像素解決方案，確保分析精度。

全自動(dòng)清潔度分析系統會(huì )自動(dòng)將顆粒分為以下三類(lèi)：

金屬顆粒：通常是關(guān)注的，并且是關(guān)鍵的顆粒。

非金屬顆粒，不含纖維：這些顆粒和金屬顆粒一樣是關(guān)鍵性污染物顆粒。

纖維：這些顆粒在測試的準備和操作過(guò)程中是無(wú)法避免的。因此，即使有時(shí)候纖維是濾膜上大的顆粒，其關(guān)注度也是相對不高。

將顆粒預分為三類(lèi),可減少手動(dòng)操作的工作量,并且蕞大限度的關(guān)注所有與實(shí)際操作相關(guān)的顆粒。

通過(guò)偏振鏡機構對濾膜進(jìn)行二次掃描，并實(shí)現對濾膜上金屬和非金屬顆粒 的統計和鑒別。 針對塑料、玻纖等同樣會(huì )產(chǎn)生反射的物體，系統會(huì )自動(dòng)將其與金屬顆粒區分開(kāi)，此方法有效的回避了被誤判為金屬顆粒的風(fēng)險。

對于尼龍網(wǎng)格編織膜的掃描數據表現同于表面濾膜的掃描數據，結果不受網(wǎng)格影響。

本設備設計參考理論依據

1. ISO 16232/VDA19對顆粒屬性定義
2. ISO 16232/VDA19分辨率定義