產(chǎn)品中心
Products材料可靠性、失效分析 涂鍍層測厚儀
快速、準確地分析納米級鍍層
FT160 臺式 XRF 分析儀旨在測量當今 PCB、半導體和微連接器上的微小部件。準確、快速地測量微小部件的能力有助于提高生產(chǎn)率并避免代價(jià)高昂的返工或元件報廢。
FT160 的多毛細管光學(xué)元件可以測量小于 50 μm 的特征上的納米級鍍層，先進(jìn)的檢測器技術(shù)可為您提供高精度，同時(shí)保持較短的測量時(shí)間。其他功能，例如大樣品臺、寬樣品艙門(mén)、高清樣品攝像頭和堅固的觀(guān)察窗，可以輕松裝載不同尺寸的物品并在大型基板上找到感興趣的區域。該分析儀易于使用，與您的 QA / QC 流程無(wú)縫集成，在問(wèn)題危機發(fā)生前提醒您。
產(chǎn)品亮點(diǎn)
FT160 的光學(xué)和檢測器技術(shù)專(zhuān)為微光斑和超薄鍍層分析而設計，針對最小的特征進(jìn)行了優(yōu)化。
用于從安全距離查看分析的大觀(guān)察窗
測量方法符合 ISO 3497、ASTM B568 和 DIN 50987 標準
IPC-4552B、IPC-4553A、IPC-4554 和 IPC-4556 一致性鍍層檢測
用于快速樣品設置的自動(dòng)特征定位
為您的應用優(yōu)化的分析儀配置選擇
在小于 50 μm 的特征上測量納米級鍍層
將傳統儀器的分析通量提高一倍
可容納各種形狀的大型樣品
專(zhuān)為長(cháng)期生產(chǎn)使用的耐用設計
|
|
FT160 |
FT160L |
FT160S |
|
元素范圍 |
Al – U |
Al – U |
Al – U |
|
探測器 |
硅漂移探測器 (SDD) |
硅漂移探測器 (SDD) |
硅漂移探測器 (SDD) |
|
X射線(xiàn)管陽(yáng)極 |
W 或 Mo |
W 或 Mo |
W 或 Mo |
|
光圈 |
多毛細管聚焦 |
多毛細管聚焦 |
多毛細管聚焦 |
|
孔徑大小 |
30 μm @ 90% 強度（Mo tube） |
|
|
|
35 μm @ 90% 強度（W tube） |
30 μm @ 90% 強度（Mo tube） |
|
|
|
35 μm @ 90% 強度（W tube） |
30 μm @ 90% 強度（Mo tube） |
|
|
|
35 μm @ 90% 強度（W tube） |
|
|
|
|
XY軸樣品臺行程 |
400 x 300 mm |
300 x 300 mm |
300 x 260 mm |
|
最大樣品尺寸 |
400 x 300 x 100 mm |
600 x 600 x 20 mm |
300 x 245 x 80 mm |
|
樣品聚焦 |
聚焦激光和自動(dòng)聚焦 |
聚焦激光和自動(dòng)聚焦 |
聚焦激光和自動(dòng)聚焦 |
